星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202210016083.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114355038A | 公开（公告）日 | 2022-04-15 |
| 申请公布号 | CN114355038A | 申请公布日 | 2022-04-15 |
| 分类号 | G01R23/165（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何嘉恺;徐红新;姜丽菲;周仁杰;叶志彪;陈卫英;邢瑞先;潘莉;苏晟 | 申请（专利权）人 | 上海航天测控通信研究所 |
| 代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 | 代理人 | 胡晶 |
| 地址 | 201109上海市闵行区中春路1777号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种星载微波辐射计天线反射器后向漏射测试装置及测试方法，包括天线反射器、移动组件、金属斗、喇叭天线、标准辐射计、转动装置、角度测量装置和数据采集设备。本发明通过建立低亮温测试环境、改变天线反射器后向漏射亮温，通过标准辐射计输出变化，直接测量天线反射器后向漏射。本发明中使用标准辐射计直接测试天线反射器后向漏射，因此测试精度更高；本发明中使用转动装置模拟星载微波辐射计喇叭天线在轨运动轨迹，可以测试喇叭天线在多个位置的天线反射器后向漏射，且测试时间短；本发明中转动装置可以同时运动多个喇叭天线，可同时测试的频点多；具有良好的推广和应用价值。 |
