一种纳米材料生产用表面缺陷检测装置

基本信息

申请号 CN202022982611.4 申请日 -
公开(公告)号 CN213875392U 公开(公告)日 2021-08-03
申请公布号 CN213875392U 申请公布日 2021-08-03
分类号 G01N19/08(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 刘明星;刘建;童航 申请(专利权)人 武汉格迪泰健康科技有限公司
代理机构 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 代理人 李杰梅
地址 430000湖北省武汉市经济技术开发区南太子湖创新谷启迪协信科创园(QDXX-F2304)
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种纳米材料生产用表面缺陷检测装置,属于纳米材料生产技术领域,包括底座、接触杆,所述底座的表面安装有四组连接座,两组所述连接座之间转动连接有螺纹杆,两组所述螺纹杆的外壁螺纹连接有驱动块。本装置通过定位机构对纳米材料本体进行固定,通过驱动机构带动接触杆在纳米材料本体的表面直线移动,通过转换机构将接触杆经过纳米材料本体表面不平整的地方时转化为扇叶的转动,使得操作人员能够直观地观察到纳米材料本体表面的不平整,大大提高了检测效率,而且误差较小,提高了纳米材料的生产效率。