圆柱电芯封焊质量检测方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111301021.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114119497A | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN114119497A | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 吴轩;冉昌林;程从贵;蔡汉钢 | 申请（专利权）人 | 武汉逸飞激光股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张睿 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉未来科技城龙山创新园一期C1栋1101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种圆柱电芯封焊质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取目标圆柱电芯的目标端盖的焊缝的周向图像；基于目标识别模型，对所述周向图像进行目标识别，确定所述周向图像中的焊缝区域；基于所述周向图像中的焊缝区域，获取所述目标圆柱电芯的封焊质量检测结果。本发明实施例提供的圆柱电芯封焊质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过识别目标圆柱电芯的目标端盖的焊缝的周向图像中的焊缝区域，基于周向图像中的焊缝区域，获取目标圆柱电芯的封焊质量检测结果，能提高圆柱电芯封焊质量检测的效率，检测结果的准确性更高，从而能保证圆柱电芯质量的稳定性。 |
