一种ICT无需治具测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202021553943.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212872771U | 公开（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申请公布号 | CN212872771U | 申请公布日 | 2021-04-02 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 林雾杰;黄栋;刘经秀 | 申请（专利权）人 | 深圳市鑫达辉软性电路科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳倚智知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 霍如肖 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山新区坑梓秀新社区新村工业区牛昇路3号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种ICT无需治具测试装置，包括上盖板和下盖板，下盖板的上表面和下表面分别设置呈阵列分布的第一微晶体球和第一导体球，第一微晶体球的密度大于第一导体球的密度，每个第一导体球连接两个以上的第一微晶体球，待测试的电路板的底部引脚按压在第一微晶体球上；上盖板的下表面和上表面分别设置呈阵列分布的第二微晶体球和第二导体球，每个第二导体球连接两个以上的第二微晶体球；上盖板位于待测试的电路板的上部；待测试的电路板的上部引脚抵住第二微晶体球，设置不同的规格的上盖板和下盖板，轮番使用，可以测试不同的待测电路板，无需大量制作针床和治具，操作简单、能够降低电路板测试的成本。 |
