一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111045437.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113763355A | 公开（公告）日 | 2021-12-07 |
| 申请公布号 | CN113763355A | 申请公布日 | 2021-12-07 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/50（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张发恩;李锴莹;刁晓淳 | 申请（专利权）人 | 创新奇智（青岛）科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 唐正瑜 |
| 地址 | 266200山东省青岛市即墨市通济新经济区九江路17号A1-9 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取待检测对象的待识别图像和深度图像；所述待检测对象在所述待识别图像和所述深度图像中所占的像素点位置相同；将所述待识别图像输入缺陷检测模型中，获得所述缺陷检测模型输出的缺陷区域；根据所述深度图像确定所述缺陷区域中的像素点对应的深度信息；根据所述深度信息获得缺陷检测结果。本申请实施例通过对待检测对象进行图像采集，并对图像进行缺陷识别，在确定缺陷区域后，利用缺陷区域对应的深度图获得深度信息，最后根据深度信息确定是否是目标缺陷。本申请实施例通过对图像进行处理实现缺陷的检测，并结合深度信息确定目标缺陷，提高了检测缺陷的效率。 |
