一种射频芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022389443.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213581242U | 公开（公告）日 | 2021-06-29 |
| 申请公布号 | CN213581242U | 申请公布日 | 2021-06-29 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R1/18（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 潘晓燕 | 申请（专利权）人 | 正芯半导体技术（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 北京成实知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈永虔 |
| 地址 | 518000广东省深圳市福田区华强北街道福强社区深南中路2070号电子科技大厦A座3104 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括工作台和射频强度测试仪，所述工作台顶面安装有钢板，且钢板顶面一端安装有射频强度测试仪，并且钢板顶面安装有测试箱，所述测试箱顶面设置有上盖，且测试箱内部固定摆放有安装台，并且测试箱侧壁固定安装有加热丝，所述测试箱一侧贯穿连接有电连接线，且电连接线与测试箱密封连接。有益效果：本实用新型采用了测试箱、充气泵、抽气泵和加热丝，可充分测试射频芯片的极限耐候性，便于工作人员了解射频芯片的极限工作压强和极限工作温度，从而得出更加严谨和科学的射频芯片使用环境要求，同时，本装置结构简单，可模拟出不同恶劣工况，便于工作人员对射频芯片进行极限测试。 |
