一种芯片的质量检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202110606807.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113325298A | 公开（公告）日 | 2021-08-31 |
| 申请公布号 | CN113325298A | 申请公布日 | 2021-08-31 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 胡信伟;侯林;李翔 | 申请（专利权）人 | 南京派格测控科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 侯越玲 |
| 地址 | 210000江苏省南京市中国（江苏）自由贸易试验区南京片区研创园团结路99号孵鹰大厦1272室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种芯片的质量检测装置，包括至少两个测试站和控制单元，至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；所述抽测指数的确定方式为，m＝n‑a+b，其中，m表示抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示测试站的数量；b表示测试站的序号。本发明通过对抽测指数进行确定并且基于抽测指数进行质量测试的数据调节，从而提高了各个测试站的测试效率。 |
