一种基于谐波累加的P-OTDR系统的多点扰动定位检测方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种基于谐波累加的P-OTDR系统的多点扰动定位检测方法

基本信息

申请号	CN202010505091.X	申请日	-
公开（公告）号	CN111780857B	公开（公告）日	2022-02-15
申请公布号	CN111780857B	申请公布日	2022-02-15
分类号	G01H9/00（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	孙小菡;刘华伟;吴宝锋;徐宛丽	申请（专利权）人	南京曦光信息科技研究院有限公司
代理机构	南京经纬专利商标代理有限公司	代理人	施昊
地址	210012江苏省南京市雨花台区软件大道180号大数据产业基地8栋
法律状态	-

摘要

本发明公开一种基于谐波累加的P‑OTDR系统多点扰动定位检测方法，步骤：连续采集多个周期的背向瑞利散射信号，对每个位置的背向散射信号进行快速傅里叶变换，得到背向散射信号的功率谱沿光纤位置的变化情况；从频谱中找出第一个幅度从某个光纤位置开始出现明显跃变的频率成分，并将其看作基础频率；提取出小于特定频率的基础频率和基础频率的谐波频率沿光纤位置的分布曲线；将提取的曲线累加作为最终的定位曲线，曲线中幅度跃变的位置即为最终的扰动位置。本发明无需对传统P‑OTDR系统的硬件系统进行改进或者协同操作，且没有苛刻的应用条件，既实现多点同频扰动的区分定位，又避免传统定位方案在多点不同频扰动定位时带来的漏报问题。