光学显微成像冗余信息定量度量方法
基本信息
| 申请号 | CN202210279435.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114677447A | 公开（公告）日 | 2022-06-28 |
| 申请公布号 | CN114677447A | 申请公布日 | 2022-06-28 |
| 分类号 | G06T7/80（2017.01）I;G02B21/36（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 潘安;高慧琴 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 代理机构 | 西安恒泰知识产权代理事务所 | 代理人 | - |
| 地址 | 710119陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种光学显微成像冗余信息定量度量方法，还涉及到对傅里叶叠层成像技术（FPM）重构所需的冗余信息进行定量度量的方法，该方法用于显微成像系统最佳定量参数选取，为该系列技术的成像通量进一步提升至极限情况提供理论支撑。该方法明确了FPM技术的成像通量极限，为实验参数选取提供了理论指导，为相关基于冗余信息的成像技术、信息复用技术等提供了重要的定量参考依据。 |
