一种半导体产品测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022557148.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213364602U | 公开（公告）日 | 2021-06-04 |
| 申请公布号 | CN213364602U | 申请公布日 | 2021-06-04 |
| 分类号 | G01N21/84 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈能强 | 申请（专利权）人 | 无锡昌鼎电子有限公司 |
| 代理机构 | 无锡派尔特知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 杨立秋 |
| 地址 | 214000 江苏省无锡市梁溪区会西路30-28号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种半导体产品测试装置，属于半导体测试技术领域。所述半导体产品测试装置包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。 |
