透明或半透明介质上、下表面三维位置检测方法、系统和装置
基本信息
| 申请号 | CN202010412395.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112816505A | 公开（公告）日 | 2021-05-18 |
| 申请公布号 | CN112816505A | 申请公布日 | 2021-05-18 |
| 分类号 | G01N21/958;G01N21/94;G01N21/88 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李浩天;丁俊飞 | 申请（专利权）人 | 奕目（上海）科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海段和段律师事务所 | 代理人 | 李佳俊 |
| 地址 | 201109 上海市闵行区剑川路951号1幢1103室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种透明或半透明介质上、下表面三维位置检测方法，设置至少一光源，以适合角度照射被测所述透明或半透明介质，使得所述透明或半透明介质的上、下表面形成纹理图像，且能够被至少一台光场相机拍摄成像；使用所述光场相机拍摄所述透明或半透明介质成像的纹理区域，并进行光场多视角渲染及深度计算，获得光场多视角图像和光场深度图像；根据透明或半透明介质上、下表面纹理的三维位置信息，获得所述的透明或半透明介质上、下表面的三维位置信息。 |
