激光芯片测试平台
基本信息
| 申请号 | CN202010441947.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111442835A | 公开（公告）日 | 2020-07-24 |
| 申请公布号 | CN111442835A | 申请公布日 | 2020-07-24 |
| 分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 李伟;罗骏 | 申请（专利权）人 | 镭神技术（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市中科创为专利代理有限公司 | 代理人 | 镭神技术（深圳）有限公司 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及激光芯片测试平台，测试收光装置、XY轴芯片载料台、可调节探针台、图像采集装置均通过螺栓紧固于测试设备上，并且均连接于测试设备的控制系统，测试收光装置包括光功率探测器，光功率探测器连接于测试设备的光功率测试系统，用于测试激光芯片的光功率，测试收光装置包括耦合透镜和多模光纤，多模光纤的一端连接于耦合透镜，另一端连接于光谱分析仪，用于激光芯片的光谱测试。与现有技术相比，本发明的激光芯片测试平台采用耦合透镜将激光芯片与多模光纤进行耦合，结构设计保证精度，无需进行精密的光学对位，降低成本的同时极大的缩短了测试时间，提供测试效率。 |
