大功率激光芯片测试老化夹具
基本信息
| 申请号 | CN202020712924.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212845745U | 公开（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申请公布号 | CN212845745U | 申请公布日 | 2021-03-30 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李伟;罗骏 | 申请（专利权）人 | 镭神技术（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市中科创为专利代理有限公司 | 代理人 | 彭涛;宋鹏跃 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及大功率激光芯片测试老化夹具，散热基座上固定有定位片，定位片上放置有激光芯片，散热基座上还设置有控温电路板，控温电路板上方设置有加电电路板，加电电路板与激光芯片电连接，加电电路板连接于测试老化设备内的电源，定位片上设置有定位槽，激光芯片定位放置于定位槽内，加电电路板一端设置有加电电极，加电电极与激光芯片电连接，控温电路板上设置有热敏电阻。与现有技术相比，本实用新型的大功率激光芯片测试老化夹具只需调整定位片的定位槽和加电电路板的加电电极，即可实现对不同规格的激光芯片进行测试老化，通用性增强，便于激光芯片的装夹与生产流转，利于提高生产效率。 |
