引脚测试探针结构
基本信息
| 申请号 | CN202021280036.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212905256U | 公开（公告）日 | 2021-04-06 |
| 申请公布号 | CN212905256U | 申请公布日 | 2021-04-06 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/067(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何欢;刘通;邓勇泉;夏淞 | 申请（专利权）人 | 上海泰睿思微电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯源专利代理有限公司 | 代理人 | 汪家瀚 |
| 地址 | 201306上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区芦潮港路1758号1幢18641室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种引脚测试探针结构，包括引脚测试探针和导电凸部，引脚测试探针包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小，导电凸部设置在第二端部的侧面上。较佳地，导电凸部为导电凸台，导电凸台的底面设置在第二端部的侧面上。导电凸部为耐磨导电凸部。导电凸部焊接在第二端部的侧面。安装部沿安装部的厚度方向设置有安装孔。本实用新型的引脚测试探针结构能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。 |
