测试面板结构
基本信息
| 申请号 | CN202021281104.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212905257U | 公开（公告）日 | 2021-04-06 |
| 申请公布号 | CN212905257U | 申请公布日 | 2021-04-06 |
| 分类号 | G01R1/20(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘通;何欢;夏淞;邓勇泉 | 申请（专利权）人 | 上海泰睿思微电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯源专利代理有限公司 | 代理人 | 汪家瀚 |
| 地址 | 201306上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区芦潮港路1758号1幢18641室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种测试面板结构，所述测试面板具有测试电路，其特征在于，所述测试面板结构还包括接入所述测试电路的控制开关和与所述控制开关连接的至少一个测试电阻，所述的至少一个测试电阻连接于所述控制开关对应的引脚，所述控制开关控制与其连接的一个测试电阻与所述测试电路连接本实用新型的测试面板结构通过控制开关控制一个测试面板接入到测试电路中，能够实现控制开关及测试电阻的统一装配，有效的提高生产效率设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。 |
