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一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法

基本信息

申请号 CN202010434501.6 申请日 -
公开（公告）号 CN111561868A 公开（公告）日 2020-08-21
申请公布号 CN111561868A 申请公布日 2020-08-21
分类号 G01B11/00(2006.01)I 分类 -
发明人 庞健康;黄高爽;柏宏武 申请（专利权）人 航天跃盛（杭州）信息技术有限公司
代理机构 郑州天阳专利事务所（普通合伙） 代理人 郑州辰维科技股份有限公司;上海跃盛信息技术有限公司
地址 450000河南省郑州市中原区高新技术产业开发区云杉路9号5幢
法律状态 -

摘要

摘要 一种利用光学跟踪结构光扫描器实现天线型面非接触测量的方法，光学跟踪系统与结构光扫描器结合使用，结构光扫描器外部增加带有靶球结构，使光学跟踪系统可实时跟踪结构光扫描器的位置与姿态，并实时将结构光扫描器所测点云数据统一至光学跟踪系统坐标系下，包括以下步骤：（1）结构光扫描器的扫描模块与结构光扫描器外部靶球结构位姿关系标定；（2）利用光学跟踪系统，跟踪结构光扫描器的单站或多站非接触测量，本发明从测量开始至测量结束不对被测物体表面造成接触，不会对被测物造成损伤，测量精度高，测量速度快，测量点密度高，测量尺寸巨大，工作效率高，有巨大的社会和经济效益。