一种用于有机纳米导电膜生产的背光测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201921378076.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN210427396U | 公开（公告）日 | 2020-04-28 |
| 申请公布号 | CN210427396U | 申请公布日 | 2020-04-28 |
| 分类号 | G01N21/95 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 邓江波 | 申请（专利权）人 | 深圳市诺斯特新材料有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区名优采购中心A座5层531 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及导电膜生产领域，具体是一种用于有机纳米导电膜生产的背光测试装置，所述底架的顶部一侧设有多个支撑杆，后端所述支撑杆顶部焊接有支架，所述支架的顶部水平设置有卷膜辊，前端所述支撑杆上设置有第一辅助辊，且第一辅助辊的一侧设有第二辅助辊，所述第一辅助辊的下方设置有固定架，且固定架上设置有夹板，所述底架的顶部另一侧搭接有悬臂，且悬臂的顶部设置有顶板，所述悬臂的下端以其平分线为原点对称开设有一组滑槽。本申请在有机纳米导电膜的生产线的收膜工序上设计出一个检测装置，所有被收卷的导电膜全部需要经过检测装置，这样就可以全面的对导电膜的缺陷，诸如杂质、空位等进行检测。 |
