校准磁传感器的方法和装置
基本信息
| 申请号 | CN201310172424.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104142485B | 公开（公告）日 | 2017-09-15 |
| 申请公布号 | CN104142485B | 申请公布日 | 2017-09-15 |
| 分类号 | G01V3/40 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 涂仲轩;方舒 | 申请（专利权）人 | 意法半导体（中国）投资有限公司 |
| 代理机构 | 北京市金杜律师事务所 | 代理人 | 郑立柱 |
| 地址 | 200241 上海市东川路555号丁楼4层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种用于校准磁传感器的方法和装置。所述方法包括获取多个磁场测量值；将所述多个磁场测量值中的至少一部分代入椭球体模型，以获得所述椭球体模型的中心坐标；根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及利用所述用于校准的偏移量，对所述磁传感器进行校准。用于执行所述方法的磁传感器，包括获取模块，用于获取多个磁场测量值；控制模块，用于将所述多个磁场测量值的至少一部分代入椭球体模型，从而获得所述椭球体模型的中心坐标，以及根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及校准模块，用于基于所述用于校准的偏移量来对所述磁传感器进行校准。 |
