特高频局部放电传感器性能检测方法及系统
基本信息
申请号 | CN201910917416.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110471019B | 公开(公告)日 | 2021-10-08 |
申请公布号 | CN110471019B | 申请公布日 | 2021-10-08 |
分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 刘诣;梁明辉;周求宽;王鹏;邹阳;刘正阳;江翼;张静;杨旭;周文;程林;聂德鑫;伍志荣 | 申请(专利权)人 | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 |
代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人 | 张惠玲 |
地址 | 430074湖北省武汉市洪山区珞喻路143号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及电气设备绝缘状态监测技术领域,更具体地说,涉及特高频局部放电传感器性能新型检测方法及系统,所述方法包括:获取吉赫横电磁波传输室的传递函数;将被试传感器放置于吉赫横电磁波传输室内后:特高频脉冲发生器发出预定幅值和波形的预定脉冲信号;射频耦合器将预定脉冲信号按比例分配为输出脉冲信号和耦合脉冲信号;吉赫横电磁波传输室根据输出脉冲信号产生激励电场;超高速信号采集装置同时获取被试传感器根据激励电场产生的响应信号,以及射频耦合器耦合端输出的耦合脉冲信号;根据吉赫横电磁波传输室的传递函数、被试传感器的响应信号,以及耦合脉冲信号,得到被试传感器的等效响应高度。本发明能减小最终测量结果的偏差。 |
