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一种土壤样本制备方法及装置

基本信息

申请号	CN202010703614.1	申请日	-
公开（公告）号	CN111855350A	公开（公告）日	2020-10-30
申请公布号	CN111855350A	申请公布日	2020-10-30
分类号	G01N1/28(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	王锐;马晓红;贺新;范东宇	申请（专利权）人	华谱智能科技（天津）有限公司
代理机构	天津市鼎拓知识产权代理有限公司	代理人	华谱智能科技（天津）有限公司
地址	300450天津市滨海新区中新天津生态城中天大道1620号生态科技园启发大厦5层201-1室
法律状态	-

摘要

本申请提供一种土壤样本制备方法及装置，所述方法包括以下步骤：获取原始土壤，对原始土壤进行初筛，得到初筛土壤；测量初筛土壤含水率p；测量初筛土壤粒径r；计算第一时间T1＝a1p2+a2p+a3，烘干温度D＝b1p+b2；计算第二时间T2＝c1r+c2，研磨转速W＝d1r2+d2r+d3；计算第三时间T3＝e1/p+e2/r+e3，压片压力N＝(f1/p+f2/r+f3)*s；对初筛土壤以烘干温度D进行烘干，烘干时间为第一时间T1，得到烘干土壤；对烘干土壤以研磨转速W进行研磨，研磨时间为第二时间T2，得到研磨土壤；对研磨土壤进行收集，得到第一土壤样本；对研磨土壤以压片压力N进行压片，压片时间为第三时间T3，得到第二土壤样本。通过上述步骤可避免土壤与设定的研磨、烘干及压片过程不匹配，有助于提高土壤样本的质量及效率，有助于节省资源。