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红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法

基本信息

申请号 CN201811219048.6 申请日 -
公开（公告）号 CN109406108B 公开（公告）日 2020-03-10
申请公布号 CN109406108B 申请公布日 2020-03-10
分类号 G01M11/02 分类 测量；测试;
发明人 麦绿波 申请（专利权）人 中国兵器工业标准化研究所
代理机构 中国兵器工业集团公司专利中心 代理人 王雪芬
地址 100089 北京市海淀区车道沟10号院
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，涉及红外光学材料均匀性测试技术领域。本发明基于对红外光学材料折射率均匀性测试期间试样局部小的温度变化对测试结果精度影响的发现，建立了红外光学材料折射率测试精度要求和不同红外光学材料温度变化对折射率影响对应的测试室环境温度控制的二维数值表格关系，并建立了相关计算公式进行数值计算和填表，提供了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，建立了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法的技术解决方案，能够为红外光学材料均匀性测试精度的保证提供温度控制的准确指导。