芯片测试分选机(单工位三温取放式)
基本信息
申请号 | CN202130164398.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN306811184S | 公开(公告)日 | 2021-09-07 |
申请公布号 | CN306811184S | 申请公布日 | 2021-09-07 |
分类号 | - | 分类 | - |
发明人 | 孙毅俊;吕勇;季宏薪 | 申请(专利权)人 | 天津金海通半导体设备股份有限公司 |
代理机构 | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵雪红 |
地址 | 300384 天津市滨海新区高新区华苑产业区物华道8号A106 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 1.本外观设计产品的名称:芯片测试分选机(单工位三温取放式)。2.本外观设计产品的用途:半导体器件的测试分选设备。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。 |
