一种化学气相沉积高纯钨溅射靶材制作方法

基本信息

申请号 CN201910128681.2 申请日 -
公开(公告)号 CN109609926A 公开(公告)日 2019-04-12
申请公布号 CN109609926A 申请公布日 2019-04-12
分类号 C23C16/14;C23C14/34 分类 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕;
发明人 刘洋;刘瑞 申请(专利权)人 苏州鑫沣电子科技有限公司
代理机构 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 张丽
地址 215000 江苏省苏州市太仓市陈门泾路103号工业园区11号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种化学气相沉积高纯钨溅射靶材制作方法,包括如下步骤:(1)准备原料:以常温常压为气态的六氟化钨为原料;(2)制备高纯金属钨:通过化学气相沉积设备,用还原气体将六氟化钨还原成高纯金属钨;(3)将步骤(2)中得到的高纯金属钨沉积到基体材料上,一步法生产高纯度钨靶材或钨靶材坯料。本发明以解决现有的钨靶材坯料纯度低,不易加工,表面易污染,质量一致性差等问题,气相沉积反应为连续气态反应,反应过程均匀,产品一致性好;采用一步法制备钨靶材,避免二次加工污染,有利于保证钨靶材产品质量,且生产成本低。