一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN202210300651.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114400195B | 公开（公告）日 | 2022-06-03 |
| 申请公布号 | CN114400195B | 申请公布日 | 2022-06-03 |
| 分类号 | H01L21/67（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 刘琨;左上勇;袁常乐;王婷 | 申请（专利权）人 | 南京伟测半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海和华启核知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 211806江苏省南京市浦口区浦口经济开发区双峰路69号C-93 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明揭示了一种基于ATE通用CIS芯片测试系统及方法，该系统包括：系统测试模块、光源控制模块、光源衰减模块、光源校准模块、光源模块以及分析处理模块。本发明对光源控制模块和光源衰减模块进行多档位控制，达到高精度的目的，从而满足测试芯片需要的测试光源，且可以使用自动化测试设备对光源控制模块、光源衰减模块和光源校准模块执行精准的校准操作，进一步消除由于光源驱动电源不稳定以及光源发光材料老化引起的光照强度的变化导致的测试光线光强发生变化，从而消除因此带来的测试误差，达到提高测试精准度的目的。 |
