一种高效可拓展闪存测试装置

基本信息

申请号 CN202020109129.7 申请日 -
公开(公告)号 CN211016548U 公开(公告)日 2020-07-14
申请公布号 CN211016548U 申请公布日 2020-07-14
分类号 G11C29/56(2006.01)I 分类 -
发明人 张浩明;李四林 申请(专利权)人 武汉置富半导体技术有限公司
代理机构 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 谢洋
地址 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园C幢306室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种高效可拓展闪存测试装置,包括测试仪本体和控制模块,所述测试仪本体的正面设有显示屏、指示灯、电源开关、太网接口、USB接口、调试接口,所述测试仪本体上设有测试座,所述测试座的一端设有连接轴座,所述连接轴座通过轴杆连接有覆压板,所述覆压板的顶端设有卡块,所述测试座的另一端连接有卡合连接座,所述卡合连接座上设有卡合槽,所述卡合槽的两侧设有弹性板;本实用新型通过覆压板实现对测试座上的闪存卡实现压合,防止在检测的时候发生脱落,造成接触不良,且设有卡合连接座,通过弹性板实现对覆压板上的固定连接;以及测试仪本体内部通过各种电路结构实现设备的稳定运行。