一种高低温闪存测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202020107790.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211016547U | 公开（公告）日 | 2020-07-14 |
| 申请公布号 | CN211016547U | 申请公布日 | 2020-07-14 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;H05K7/20(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 张浩明;李四林 | 申请（专利权）人 | 武汉置富半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 武汉蓝宝石专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 谢洋 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园C幢306室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体，所述测试仪本体的上部设有测试座，所述测试座的一端通过连接轴座连接有覆压板，所述测试座的另一端连接有卡合座，所述测试仪本体内安装有散热风机，所述测试仪本体上通过安装座安装有加热板，所述测试仪本体内安装有控制模块，所述控制模块电性连接调压模块，所述调压模块电性连接市电网，所述控制模块电性连接显示屏、指示灯、加热板、散热风机和测温模块；本实用新型在测试仪本体内设有散热风机，实现在低温或着是常温下进行检测闪存卡，在测试仪本体内设有加热板，使得闪存卡能够在高温下进行检测，并且设有测温模块，实现对环境的参数进行检测。 |
