一种基于特征量的闪存寿命预测方法、系统及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201811545443.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109830255B | 公开（公告）日 | 2019-05-31 |
| 申请公布号 | CN109830255B | 申请公布日 | 2019-05-31 |
| 分类号 | G11C16/34(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 刘政林;潘玉茜;张浩明;李四林 | 申请（专利权）人 | 武汉置富半导体技术有限公司 |
| 代理机构 | 武汉蓝宝石专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 廉海涛 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园C幢306室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种基于特征量的闪存寿命预测方法、系统及存储介质，测量闪存的一种特征量或几种特征量的组合，对所有特征量或组合中部分特征量进行运算，将运算结果或测量结果或运算结果和测量结果的组合按一定规则计算或判断，通过计算或判断结果预测闪存的使用寿命。本发明以多种闪存自身的特征量为基础预测闪存的寿命，与仅以一种特征量为依据的寿命预测方法相比预测寿命值的准确度更高，且应用范围广泛，可通过多种方式实现，具有较高的实用性。 |
