双向ESD保护器件、结构及制备方法
基本信息
申请号 | CN202011235908.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112151534B | 公开(公告)日 | 2021-08-17 |
申请公布号 | CN112151534B | 申请公布日 | 2021-08-17 |
分类号 | H01L27/02;H01L21/84 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 史林森;刘兴龙;关宇轩;李建平;刘森 | 申请(专利权)人 | 微龛(广州)半导体有限公司 |
代理机构 | 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 佟婷婷 |
地址 | 510663 广东省广州市高新技术产业开发区科学大道18号A栋十一层1101单元 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种双向ESD保护器件、结构及制备方法,ESD保护结构包括至少一个ESD保护结构单元,ESD保护结构单元包括基底、N阱、第一P阱、第二P阱、第一P注入区、第二P注入区、第三P注入区、第一N注入区、第二N注入区、第一导电栅、第二导电栅及功能层引出结构。本发明的双向ESD保护器件、结构及制备方法,通过前栅可以改变阱的电势,背栅不仅可以改变阱电势,还可以改变集电结的势垒,实现对触发电压的调制。无论正向还是反向的静电信号,都可以实现正负的调制,电压范围可变化而不影响其它器件,极大的增加了设计的灵活性以及系统的可靠性。本发明可采用多指结构设计,提升泄放电流能力。 |
