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电子元器件金属外壳平面度检测装置

基本信息

申请号 CN201922402493.2 申请日 -
公开（公告）号 CN211651496U 公开（公告）日 2020-10-09
申请公布号 CN211651496U 申请公布日 2020-10-09
分类号 G01B5/28 分类 测量；测试;
发明人 周俊 申请（专利权）人 宜兴市吉泰电子有限公司
代理机构 长沙惟盛赟鼎知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 姚亮梅
地址 214221 江苏省无锡市宜兴市丁山北路200号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及电子元器件测量装置，特别涉及电子元器件金属外壳平面度检测装置，包括底座和检测仪表，底座上安装有支架，支架顶部固定有工作台，所述的工作台中心处设有通孔，所述的检测仪表的检测杆通过螺钉安装在通孔内，检测杆顶端的检测头位于工作台上表面上方；所述的工作台的通孔周围设置有多个触点，所述的触点、检测杆顶端的检测头位于同一平面上。本实用新型先经过基准块校零，然后将产品放置在工作台上，通过销钉限位产品，检测仪表触点接触产品底平面，多点共面，直接读数平面度数值，效率高、精度高。