一种自动检测装置以及自动检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202110427999.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112986267B | 公开（公告）日 | 2021-08-03 |
| 申请公布号 | CN112986267B | 申请公布日 | 2021-08-03 |
| 分类号 | G01N21/88（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I;G01N35/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 余太平;胡彦潮;许朋飞 | 申请（专利权）人 | 深圳市罗博威视科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市君胜知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 温宏梅 |
| 地址 | 518107广东省深圳市光明区公明街道李松蓢社区第二工业区第49栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及图像数据处理技术领域，提供一种自动检测装置以及自动检测方法，其中自动检测装置包括：架体；滑轨，滑轨设于架体的上方并与架体连接；载物台，载物台设于滑轨的上方并与滑轨滑动连接，载物台用于放置被检测的纳米晶导磁片，纳米晶导磁片上的膜层包括多个待检测区域，待检测区域为二维码区域、纳米晶区域、蓝膜区域、石墨区域或者铜箔区域；多个光学检测工位，多个光学检测工位沿滑轨来料方向依次设置，可对滑轨上依次输送来的纳米晶导磁片进行检测，每个光学检测工位用于对纳米晶导磁片上的膜层的至少一个待检测区域进行检测，且每个光学检测工位的位置可相对其检测的待检测区域进行调整。本发明提高了产品良率，并提高了生产效率。 |
