芯片堆叠结构的连接方法

基本信息

申请号 CN202111351802.3 申请日 -
公开(公告)号 CN113793811B 公开(公告)日 2022-02-15
申请公布号 CN113793811B 申请公布日 2022-02-15
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L25/065(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 刘天建;田应超;曹瑞霞;谢冬 申请(专利权)人 湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 田婷
地址 430205湖北省武汉市东湖新技术开发区高新四路18号新芯生产线厂房及配套设施2幢OS6号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种芯片堆叠结构的连接方法,包括:提供一基板;将至少两个芯片堆叠结构固定在所述基板上,相邻的两个芯片堆叠结构之间具有间隙,每个芯片堆叠结构包括堆叠设置的多层芯片,每层芯片包括衬底、形成于所述衬底上焊盘以及覆盖所述衬底和所述焊盘的介质层,所述间隙暴露所述焊盘的侧面;去除所述间隙侧面的部分衬底和部分介质层,使所述焊盘局部突出于所述介质层;在所述芯片堆叠结构和所述基板表面形成连接材料层,去除所述芯片堆叠结构和所述基板表面的连接材料层,形成连接层,相邻的所述焊盘通过所述连接层连接;以及,填充所述间隙,以使至少两个芯片堆叠结构连接在一起。解了决芯片面积越大,良率越低的问题。