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一种多工位FT芯片测试系统及方法

基本信息

申请号	CN202210330046.4	申请日	-
公开（公告）号	CN114705970A	公开（公告）日	2022-07-05
申请公布号	CN114705970A	申请公布日	2022-07-05
分类号	G01R31/28（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	王亮亮	申请（专利权）人	天水华天科技股份有限公司
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	-
地址	741000甘肃省天水市秦州区双桥路14号
法律状态	-

摘要

本发明提供一种多工位FT芯片测试系统及方法，包括控制处理系统COMPUTER、系统总线BUS、ATE设备和多个测试板DUT，控制处理系统COMPUTER连接系统总线BUS，系统总线BUS包括测试站STATION，测试站STATION提供给用户多个64引脚接口，这些接口连接多个测试板DUT，测试站STATION的多个64引脚接口和测试板DUT对应连接形成测试工位，待测芯片在多个测试工位上实现并行测试，单个测试工位芯片测试时间不变，仅需在测试充电截止电压过程中对多个测试工位进行标定，进而避免多工位扫描过程中测试数据不会彼此覆盖，保证测试结果的唯一性，其余测试过程与现有技术相同，进而极大地提高了芯片质量的测试效率，降低了芯片的测试成本。