一种5G基站保护芯片制造工艺

基本信息

申请号 CN202010768084.9 申请日 -
公开(公告)号 CN111863616A 公开(公告)日 2020-10-30
申请公布号 CN111863616A 申请公布日 2020-10-30
分类号 H01L21/329(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 崔文荣 申请(专利权)人 江苏晟驰微电子有限公司
代理机构 北京天盾知识产权代理有限公司 代理人 江苏晟驰微电子有限公司
地址 226600江苏省南通市海安经济技术开发区康华路55号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种5G基站保护芯片制造工艺,涉及5G基站技术领域,具体为一种5G基站保护芯片制造工艺,所述包括以下步骤:S1、扩散前处理;S2、氧化;S4、双面开管磷沉积;S5、开管扩磷;S6、蚀刻沟槽;S7、电泳钝化;S8、完成芯片制造。该5G基站保护芯片制造工艺设置的芯片采取台面工艺,芯片台面附近区域设计的辅助沟槽结构,当外加最高反向电压时,P型基区耗尽层被限制在基区以内,其击穿电压高于主体结击穿电压,使主体结区域先击穿,漏电流分布于主体结区域,而辅助结区域不发生击穿,从而提高了高电压瞬态电压抑制器的耐压性能,同时提高瞬态电压抑制器的抗浪涌能力及可靠性。