一种半导体行业生产测试数据处理方法
基本信息
| 申请号 | CN201810858410.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109143017B | 公开（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申请公布号 | CN109143017B | 申请公布日 | 2021-03-30 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨川;李冉 | 申请（专利权）人 | 成都天衡智造科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都华风专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 徐丰;张巨箭 |
| 地址 | 610200四川省成都市高新区中国（四川）自由贸易试验区成都高新天府五街200号3栋B区5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及高速数据采集领域，公开了一种半导体行业生产测试数据处理方法，通过该数据架构，能够将自动测试系统产生的各种数据，包括测试用例、测试过程数据和测试结果数据，将数据统一进行抽取、建模分析和存储，形成具备一定特征的数据集合。 |
