一种电解质初晶温度测量方法
基本信息
申请号 | CN200910039051.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101871821A | 公开(公告)日 | 2010-10-27 |
申请公布号 | CN101871821A | 申请公布日 | 2010-10-27 |
分类号 | G01K7/02(2006.01)I;C25C3/18(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 王建平;战国忠;潘强;董大旺 | 申请(专利权)人 | 亚太电效系统(珠海)有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 519000 广东省珠海市香洲区香华路289号1楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种电解质初晶温度测量方法,能够对电解质试料样品初晶点温度进行快速检测,准确地测定电解质的初晶温度值,通过对冷却过程中熔融电解质进行测量,并进行数据采集和分析,测得电解质的初晶温度和测绘相应曲线,不仅达到了提高生产效率,降低能耗,稳定生产操作,将降低生产成本的目的,而且操控简单,更容易设置、使用和调整,测量准确,自动化程度高,大大减轻了系统维护,提高了生产工艺控制。 |
