一种晶粒裂纹检测识别方法、计算机装置和存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111391892.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113822887A | 公开（公告）日 | 2021-12-21 |
| 申请公布号 | CN113822887A | 申请公布日 | 2021-12-21 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/187（2017.01）I;G06T7/40（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 于伟敏;胡颖超;曹星;田丹女 | 申请（专利权）人 | 江苏集萃苏科思科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州通途佳捷专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 翁德亿 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市相城区南天成路99号紫光大厦（启迪大厦）18楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种晶粒裂纹检测识别方法、计算机装置和存储介质。包括：1、通过深度神经网络模型对横断面扫描电镜图提取边缘纹理，获得整体边缘纹理图，获得横断面扫描电镜图上的单一颗粒的掩模图，2、将整体边缘纹理图与对应的单一颗粒的掩模图相乘，获得单一颗粒的边缘纹理图，3、将单一颗粒的边缘纹理图实施裂纹分割操作得到单一颗粒的裂纹二值掩模图，4、将单一颗粒的裂纹二值掩模图进行形态学骨架化操作，提取出单一颗粒的裂纹结果图。本申请可获得单一颗粒的裂纹结果图。且裂纹的检测识别结果较为清楚和准确。为后续研究奠定了良好的基础。本申请得到的裂纹结果图可以进一步进行量化分析，用于锂电池寿命预测、正极材料设计优化等研究。 |
