一种芯片测试模块
基本信息
申请号 | CN202021798226.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214252487U | 公开(公告)日 | 2021-09-21 |
申请公布号 | CN214252487U | 申请公布日 | 2021-09-21 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 王树锋;陈阳 | 申请(专利权)人 | 前海晶云(深圳)存储技术有限公司 |
代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 黎坚怡 |
地址 | 518000广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司) | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试模块,所述芯片测试模块包括芯片安装板和芯片定位机构,所述芯片安装板和所述芯片定位机构可拆卸式连接;所述芯片安装板上固定有芯片针载板;所述芯片定位机构包括芯片型腔、定位块和芯片锁闭机构;所述芯片型腔开设有芯片安装槽,所述芯片针载板套设于所述芯片安装槽内;所述定位块的一端伸入所述芯片安装槽内,与所述芯片相抵接;所述芯片锁闭机构设于所述定位块的另一端,用于对所述定位块进行锁定。本实用新型的芯片测试模块通过设置安装板和芯片定位机构,对芯片进行固定,便于后续测试;同时芯片定位机构与安装板为可拆卸式连接,便于安装和拆卸。 |
