一种芯片测试模块开锁装置
基本信息
| 申请号 | CN202021789758.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214225329U | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN214225329U | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王树锋;陈阳 | 申请（专利权）人 | 前海晶云（深圳）存储技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎坚怡 |
| 地址 | 518000广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；所述驱动装置用于带动所述传动件运动；所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。本实用新型的芯片测试模块开锁装置通过设置驱动装置、传动件和拉杆，拉杆与芯片测试模块上的定位块相对应，驱动装置通过传动件推动定位块运动，从而对芯片测试模块进行解锁，满足了芯片测试模块在放置和取出芯片时解锁的需求。 |
