样品仓、光谱检测系统、样品厚度测量方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201910945323.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110542386A | 公开（公告）日 | 2019-12-06 |
| 申请公布号 | CN110542386A | 申请公布日 | 2019-12-06 |
| 分类号 | G01B11/06 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄培雄;张前成 | 申请（专利权）人 | 雄安华讯方舟科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;雄安华讯方舟科技有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请适用于计算机技术领域，提出一种样品仓、光谱检测系统、样品厚度测量方法及装置，样品仓包括相对的第一侧壁和第二侧壁；第一侧壁反射太赫兹波形成第一反射信号，透射太赫兹波形成第一透射信号；第二侧壁全反射第二透射信号，形成第二反射信号；待测样品的第一表面和第二表面分别反射第一透射信号形成第三反射信号和第四反射信号。由于太赫兹波在空气中的传播速度、第一侧壁和第二侧壁之间的距离均已知，因此通过样品仓测量出接收到第一反射信号和第三反射信号的时间差，以及接收到第二反射信号和第四反射信号的时间差，可以计算待测样品的厚度，能够实现对未知折射率样品的厚度进行测量。 |
