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芯片原型验证方法、装置、系统及存储介质

基本信息

申请号	CN202111551959.0	申请日	-
公开（公告）号	CN114528789A	公开（公告）日	2022-05-24
申请公布号	CN114528789A	申请公布日	2022-05-24
分类号	G06F30/33（2020.01）I;G06F30/34（2020.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	荣超群;张云伟	申请（专利权）人	上海金卓科技有限公司
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	-
地址	201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5幢802A室
法律状态	-

摘要

本申请实施例公开了一种芯片原型验证方法、装置、系统及存储介质。该方法包括：将验证指令发送到预先适配到原型验证平台中的DDR控制器中，利用所述DDR控制器根据所述验证指令生成控制指令并发送给预先适配到原型验证平台中的数字DFI‑PHY模组；利用所述数字DFI‑PHY模组将所述控制指令由DFI协议转换为符合DDR协议的目标控制指令；将所述目标控制指令发送给所述原型验证平台外接的DDR颗粒；获取所述DDR颗粒执行所述目标控制指令后反馈的结果信息，并基于所述结果信息对所述待验证芯片进行验证。基于此，可以尽可能还原待验证芯片的设计，同时无需外置PHY芯片，避免了运行速度不匹配，性能不均衡，高成本定制外置PHY芯片，IO引脚大量占用的问题。