闪存存储设备的测试方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202011608228.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112530512A | 公开（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申请公布号 | CN112530512A | 申请公布日 | 2021-03-19 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 张坤 | 申请（专利权）人 | 北京泽石科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 董文倩 |
| 地址 | 100085北京市海淀区上地东路1号院1号楼2层203-1室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种闪存存储设备的测试方法及装置。其中，该方法包括：采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据；通过聚类算法对测试数据进行聚类，得到多个数据集合；根据多个数据集合生成测试结果。本发明解决了相关技术中通过专用的读写工具生成测试日志，人工分析测试日志确定闪存存储设备的读写速度，误差较大，效率较低的技术问题。 |
