芯片尺寸图像测量的自适应建模方法
基本信息
| 申请号 | CN202110505566.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113256569A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN113256569A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G01B11/00（2006.01）I;G01B11/02（2006.01）I;G01B11/24（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 梁玉;陈浩;郑军 | 申请（专利权）人 | 聚时科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 湖北天领艾匹律师事务所 | 代理人 | 王能德 |
| 地址 | 200000上海市杨浦区杨树浦路2300号3B层B02-59室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于视觉检测技术领域，具体涉及一种芯片尺寸图像测量的自适应建模方法，包括：相机标定获取像素尺寸，建立芯片设计尺寸与像素尺寸之间的映射关系，将用户输入的芯片设计尺寸根据映射关系转换到像素坐标系中，在像素坐标系下建立芯片的量测ROI模板。通过本方法用户只需要输入图纸上的芯片尺寸，自适应的建立量测ROI模板，对芯片尺寸进行测量，解决了传统方法用户的需要人工手动交互设置量测ROI模板，使用难度大的问题。 |
