电离层闪烁的多径噪声干扰量化评估方法及装置
基本信息
申请号 | CN202111508449.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114200490A | 公开(公告)日 | 2022-03-18 |
申请公布号 | CN114200490A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
分类号 | G01S19/23(2010.01)I;G01S19/22(2010.01)I;G01S19/21(2010.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 陈楚天;王岸石;苏从兵;胡耀坤;杨明;郑金华 | 申请(专利权)人 | 中电科星河北斗技术(西安)有限公司 |
代理机构 | 西安毅联专利代理有限公司 | 代理人 | 张为攀 |
地址 | 710000陕西省西安市高新区糜家桥小区43楼2单元1层2号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请公开了一种电离层闪烁的多径噪声干扰量化评估方法及装置,该方法包括:采集原始数据;根据原始数据计算结果数据;构建时空坐标系,并对时空坐标系按照预设的方位角步长、仰角步长和观测时间步长进行三维划分,形成三维统计网格;将结果数据按照方位角、仰角以及所处时间段划分至三维统计网格作为样本数据集;遍历样本数据集,使用聚类算法确定三维统计网格的电离层闪烁指数多径干扰判定门限。本申请有效的从数据样本中量化出了不同方位角、仰角以及观测时间范围内受多径影响的电离层闪烁指数的多径干扰判定区间。 |
