一种叶片缺陷检测方法及维护方法
基本信息
申请号 | CN201910510171.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110174413B | 公开(公告)日 | 2021-08-31 |
申请公布号 | CN110174413B | 申请公布日 | 2021-08-31 |
分类号 | G01N21/95 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 李建明;郑燕;曾强雁;赵龙 | 申请(专利权)人 | 中新红外科技(武汉)有限公司 |
代理机构 | 武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 徐杨松 |
地址 | 430223 湖北省武汉市洪山区东湖新技术开发区武大园路8号武大科技园宏业楼二楼东科创星孵化器211-213室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种叶片缺陷检测方法,包括如下步骤:S100a、获取叶片整体的目标图像;S200a、基于光学检测方法检测出叶片表面和主动式红外检测方法检测出叶片蒙皮下的缺陷;S300a、将检测出的缺陷在目标图像上进行标记。本发明的有益效果是:通过光学和红外检测可检测出叶片的表面及蒙皮下缺陷,并在叶片的整体图像中标注出缺陷,利于后期查看叶片的状况,除此之外,后续对此块叶片进行检测的时候,可对标记出的缺陷进行重点关注,相对于人工检测而言,本方法检测精度高、误差小,同时能够检测出肉眼无法观察出的内部缺陷。 |
