显微镜支架检测器具
基本信息
| 申请号 | CN200720074231.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN201075148Y | 公开（公告）日 | 2008-06-18 |
| 申请公布号 | CN201075148Y | 申请公布日 | 2008-06-18 |
| 分类号 | G02B21/00(2006.01);G01B9/04(2006.01) | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 陈阿芳;方立新 | 申请（专利权）人 | 上海广濑－关勒铭精密机械有限公司 |
| 代理机构 | 上海恩田旭诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海广濑－关勒铭精密机械有限公司;上海关勒铭有限公司 |
| 地址 | 201702上海市青浦区徐泾镇徐民路618号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种显微镜支架检测器具，包括一基板，所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置；所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆装置。由于采用了上述结构，本实用新型获得了使用便利、成本低、效率高、精确性好、稳定性高的有益效果。 |
