半导体红光激光器及其制作方法
基本信息
申请号 | CN202011370046.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112382929A | 公开(公告)日 | 2021-02-19 |
申请公布号 | CN112382929A | 申请公布日 | 2021-02-19 |
分类号 | H01S5/34(2006.01)I; | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 张立群;黄勇 | 申请(专利权)人 | 苏州晶歌半导体有限公司 |
代理机构 | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 孙伟峰;武岑飞 |
地址 | 215000江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城20号楼3层300-44工位(集群登记) | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种半导体红光激光器,所述半导体红光激光器的电子阻挡层由受张应力的GaInP材料和受压应力的AlInP材料形成的GaInP/AlInP应变超晶格制成。本发明还公开了一种半导体红光激光器的制作方法。本发明采用了GaInP/AlInP应变超晶格制作形成电子阻挡层,其中GaInP受张应力,AlInP受压应力,而受张应力的GaInP和受压应力AlInP两者的导带位置都高于晶格匹配的AlInP材料,使得两者的组合GaInP/AlInP应变超晶格的微带的有效导带位置高于晶格匹配的AlInP材料,从而有效的实现对电子的限制,抑制了半导体红光激光器中的电子泄漏,从而降低器件阈值电流,提高器件输出功率。 |
