一种高端专用ASIC芯片的检测装置专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种高端专用ASIC芯片的检测装置

基本信息

申请号	CN202021538451.8	申请日	-
公开（公告）号	CN212989571U	公开（公告）日	2021-04-16
申请公布号	CN212989571U	申请公布日	2021-04-16
分类号	G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	宁建宇;徐四九	申请（专利权）人	嘉兴威伏半导体有限公司
代理机构	浙江永航联科专利代理有限公司	代理人	蒋文
地址	314200浙江省嘉兴市平湖市经济开发区新兴二路988号3号楼1层
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及一种高端专用ASIC芯片的检测装置，包括支撑机构、移动机构、承载机构、升降机构和探测机构；支撑机构包括第一平台、第二平台和支撑杆，支撑杆位于第一平台和第二平台之间，且第一平台位于支撑杆上端，第二平台位于支撑杆下端；承载机构包括承载盘，承载盘的上表面上设有凹陷的圆形凹槽；移动机构位于承载机构和支撑机构之间，移动机构包括能横向移动承载机构的横向移动机构和能纵向移动承载机构的纵向移动机构；探测机构包括具有探针过孔的PCB板，PCB板上设置有测试探针；升降机构位于第一平台的上表面，且探测机构固定在升降机构上。本实用新型具有避免检测误差、提高检测精度、降低劳动强度、提高检测效率等有益效果。