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一种用于芯片测试中的探针更换结构

基本信息

申请号 CN202021590692.7 申请日 -
公开（公告）号 CN212989575U 公开（公告）日 2021-04-16
申请公布号 CN212989575U 申请公布日 2021-04-16
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 宁建宇;徐四九 申请（专利权）人 嘉兴威伏半导体有限公司
代理机构 浙江永航联科专利代理有限公司 代理人 蒋文
地址 314200浙江省嘉兴市平湖市经济开发区新兴二路988号3号楼1层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种用于芯片测试中的探针更换结构，属于机械技术领域。一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，移动板水平滑动设置在固定架上，第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，升降块上可拆卸设置有第一探针，第二推杆电机固定在固定架上。本实用新型具有在使用时不需要更换探针，可连续使用的优点。