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一种用于ASIC芯片的测试装置

基本信息

申请号 CN202021596405.3 申请日 -
公开（公告）号 CN212989576U 公开（公告）日 2021-04-16
申请公布号 CN212989576U 申请公布日 2021-04-16
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 宁建宇;徐四九 申请（专利权）人 嘉兴威伏半导体有限公司
代理机构 浙江永航联科专利代理有限公司 代理人 蒋文
地址 314200浙江省嘉兴市平湖市经济开发区新兴二路988号3号楼1层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于ASIC芯片的测试装置，包括安装板，所述安装板的顶部固定连接有放置台，所述放置台的顶部分别开设有放置槽和滑动槽，所述放置槽的内腔活动连接有夹板，所述夹板的左侧分别固定连接有弹簧和活动杆，所述活动杆的左侧贯穿至滑动槽的内腔并固定连接有推把，所述安装板顶部的两侧均固定连接有支撑板。本实用新型通过设置安装板、推把、放置槽、弹簧、放置台、夹板、滑动槽、支撑板、安装壳、照明灯、定位螺栓、横板、测试器、电动伸缩杆、固定板、壳体、测试探杆、活动杆、连接块、缓冲弹簧和活动块的配合使用，具备缓冲功能，避免测试时芯片破损，能够对不同体积的芯片进行固定的优点。