一种厚膜材料介电常数的测量夹具
基本信息
| 申请号 | CN202021135578.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212622824U | 公开（公告）日 | 2021-02-26 |
| 申请公布号 | CN212622824U | 申请公布日 | 2021-02-26 |
| 分类号 | G01R27/26(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李维佳;陈慧;袁玉灵;谢海岩 | 申请（专利权）人 | 成都佳驰电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 成都巾帼知识产权代理有限公司 | 代理人 | 邢伟 |
| 地址 | 610000四川省成都市郫都区成都现代工业港南片区新经济产业园文明街西段288号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种厚膜材料介电常数的测量夹具，它包括一回字形金属腔体，通过贯穿所述回字形金属腔体一端的金属壁插接有一同轴线，在所述同轴线上连接有金属导带，且所述金属导带悬空于所述回字形金属腔体内；待测材料插入到所述金属导带正上方或者正下方的回字形金属腔体内完成介电常数的测量。本实用新型可以直接对材料进行介电常数测试，避免了对材料的破坏，打破了测量时待测材料需要压制圆片的局限，且测量频率范围为0.5‑3GHz，提高了测量频率，使厚膜介电常数的测量更加方便。 |
